AFM-IR Depth Sensitivity on Vertically Stratified Polymer Structures
Devon S. Jakob, Jeffrey J. Schwartz, Karen E. Grutter, Andrea Centrone
0 citationsAnalytical Chemistry
Andover · US · company
Devon S. Jakob, Jeffrey J. Schwartz, Karen E. Grutter, Andrea Centrone
Ridho Asra, Wesley R. Browne, Louise Male, Alan M. Jones
Jisong Gao, Qiaoxiao Zhao, Wenbo Liu, Dong Li et autres
Saifullah Jamali, Hongbo Fu, Zhirong Zhang, Huadong Wang et autres
Андрій Житковський, Andrii Dubko
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