Intensity-energy response function of Al/Cr-K α x-ray photoemission instruments: An inter-laboratory study
3Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
26Institutions déclarées
3Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : fr, nl, be. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé, mais le titre doit être comparé manuellement.
- Titre Crossref
- Intensity-energy response function of Al/Cr-K<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" altimg="si281.svg" display="inline" id="d1e1291"><mml:mi>α</mml:mi></mml:math> x-ray photoemission instruments: An inter-laboratory study
- Date Crossref
- 01/10/2024
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
Centre National de la Recherche ScientifiqueUniversité Paris-SaclayLaboratoire de Génie Électrique et Électronique de ParisSorbonne UniversitéFédération de Recherche PhotoVoltaïqueFédération de Recherche Spectroscopies de PhotoémissionUniversité de Versailles Saint-Quentin-en-YvelinesInstitut Lavoisier de VersaillesImec the NetherlandsIMECCommissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies AlternativesCEA GrenobleLaboratoire d'Électronique des Technologies de l'InformationUniversité Grenoble AlpesCentre de Mise en Forme des MatériauxInstitut des NanoSciences de ParisUniversité de Haute-AlsaceInstitut de Sciences des Matériaux de MulhouseLaboratoire Interdisciplinaire Carnot de BourgogneInstitut PascalUniversity of Clermont AuvergneSigma ClermontLaboratoire de Réactivité de SurfaceSurface du Verre et InterfacesLaboratoire de Chimie Physique et Microbiologie pour les Matériaux et l'EnvironnementUniversité de Lorraine
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
Les sujets associés
Electron and X-Ray Spectroscopy TechniquesX-ray Spectroscopy and Fluorescence AnalysisAdvancements in Photolithography Techniques