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2004 conference-paper

Fin-Array-FET on bulk silicon for sub-100 nm trench capacitor DRAM

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1Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : jp. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Fin gate array transistor (Fin-Array-FET) fabricated on bulk silicon substrate is applied to the DRAM cell with the deep trench (DT) capacitor. Fin-Array-FET is designed for the 130 nm technology node and beyond by using the 3-D device simulator (HyDeLEOS) and process simulator (HySyProS). It is demonstrated that the on-current of Fin-Array-FET is 62 /spl mu/A/cell that is about 1.7 times as much as conventional planer array FET, keeping the off-current 0.1 fA/cell. It is also demonstrated that Fin-Array-FET on bulk silicon substrate can relieve of the retention degradation because the channel boron doping can be reduced to more than one order compared to the conventional planar array FET.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Fin-Array-FET on bulk silicon for sub-100 nm trench capacitor DRAM
Date Crossref
01/03/2004
Éditeur
Japan Soc. Applied Phys
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Toshiba (Japan) pays non établi dans la notice
    Entreprise
  • SoC Research and Development Center and Process and Manufacturing Engineering Center pays non établi dans la notice
    Institution
  • Semiconductor Company TOSHIBA Corporation pays non établi dans la notice
    Entreprise
  • SoC Research & Development Center and Process pays non établi dans la notice
    Institution

Toshiba (Japan), SoC Research and Development Center and Process and Manufacturing Engineering Center et TOSHIBA Corporation — Semiconductor Company, avec 1 autre affiliation.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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