Fin-Array-FET on bulk silicon for sub-100 nm trench capacitor DRAM
Rattachement africain : jp. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Fin gate array transistor (Fin-Array-FET) fabricated on bulk silicon substrate is applied to the DRAM cell with the deep trench (DT) capacitor. Fin-Array-FET is designed for the 130 nm technology node and beyond by using the 3-D device simulator (HyDeLEOS) and process simulator (HySyProS). It is demonstrated that the on-current of Fin-Array-FET is 62 /spl mu/A/cell that is about 1.7 times as much as conventional planer array FET, keeping the off-current 0.1 fA/cell. It is also demonstrated that Fin-Array-FET on bulk silicon substrate can relieve of the retention degradation because the channel boron doping can be reduced to more than one order compared to the conventional planar array FET.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Fin-Array-FET on bulk silicon for sub-100 nm trench capacitor DRAM
- Date Crossref
- 01/03/2004
- Éditeur
- Japan Soc. Applied Phys
- Type
- proceedings-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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Toshiba (Japan) pays non établi dans la noticeEntreprise
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SoC Research and Development Center and Process and Manufacturing Engineering Center pays non établi dans la noticeInstitution
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Semiconductor Company TOSHIBA Corporation pays non établi dans la noticeEntreprise
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SoC Research & Development Center and Process pays non établi dans la noticeInstitution
Toshiba (Japan), SoC Research and Development Center and Process and Manufacturing Engineering Center et TOSHIBA Corporation — Semiconductor Company, avec 1 autre affiliation.
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