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Nguyen Tien Son

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Accès ouvert 2026 article OpenAlex

Unraveling the Electronic Structure of Silicon Vacancy Centers in 4H‐SiC

Ali Tayefeh Younesi, Minh Tuan Luu, Christopher Linderälv, Vytautas Žalandauskas et autres

ABSTRACT Point defects in silicon carbide (SiC), particularly the negatively‐charged silicon vacancy () in 4H‐SiC, are leading candidates for scalable quantum technologies due to their favorable spin–optical properties and compatibility with industrial semiconductor fabrication processes. Comprehensive knowledge of a defect's electronic structure …

de, no, se, jp, hu, lt (code pays fourni par la source)

0 citations Advanced Functional Materials

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