Scaling Trends and Bias Dependence of SRAM SER from 16-nm to 3-nm FinFET
Balaji Narasimham, A. R. Montoya, Chris Paone, T. Riehle et autres
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A. R. Montoya
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Radiation Effects in ElectronicsVLSI and Analog Circuit TestingIntegrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
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Scaling Trends and the Effect of Process Variations on the Soft Error Rate of advanced FinFET SRAMs
Balaji Narasimham, Hsiang‐Ning Luk, Chris Paone, A. R. Montoya et autres
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8 citations
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