Profil bibliographique

A. Candelori

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84Citations signalées

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Les institutions déclarées

University of Padua Istituto Nazionale di Fisica Nucleare, Sezione di Padova

Les domaines associés

Radiation Effects in ElectronicsParticle Detector Development and PerformanceSemiconductor materials and devicesRadiation Detection and Scintillator TechnologiesIntegrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis

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2006 article OpenAlex

Irradiation effects on thin epitaxial silicon detectors

V. Khomenkov, D. Bisello, M. Bruzzi, A. Candelori et autres

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11 citations Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipment

Accès ouvert 2006 report OpenAlex

CMS Physics

G.L. Bayatian, S. Chatrchyan, G. Hmayakyan, A. M. Sirunyan et autres

am, at, cn, by, be, ru (code pays fourni par la source)

3 citations

2004 conference-paper OpenAlex

Evaluating the effects of SEUs affecting the configuration memory of an SRAM-based FPGA

M. Bellato, Paolo Bernardi, D. Bortolato, A. Candelori et autres

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65 citations

2004 article OpenAlex

Radiation hardness of semiconductor detectors for high energy physics applications

D. Bisello, A. Candelori, P. Giubilato, A. Kaminski et autres

it (code pays fourni par la source)

2 citations Radiation Physics and Chemistry

2002 conference-paper OpenAlex

Test results on heavily irradiated silicon detectors for the CMS experiment at LHC

C. Bozzi, S. Albergo, M.M. Angarano, P. Azzi et autres

it, ch, fi, gb, de, at (code pays fourni par la source)

0 citations 1998 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record. 1998 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (Cat. No.98CH36255)

2002 conference-paper OpenAlex

Modifications of Fowler-Nordheim injection characteristics in γ irradiated MOS devices

A. Scarpa, A. Paccagnella, F. Montera, A. Candelori et autres

it (code pays fourni par la source)

0 citations

2001 article OpenAlex

Proton Irradiation Effects on Standard and Oxygenated Silicon Diodes

D. Bisello, N. Bacchetta, A. Candelori, A. Kaminski et autres

it (code pays fourni par la source)

3 citations Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena/Solid state phenomena

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