2026 conference-paper

Enhanced TDDB reliability in superlattice based HZO ferroelectric films

Alison E. Viegas, Konstantinos Efstathios Falidas, Ayse Sünbül, Maximilian Everding, Raik Hoffmann, David Lehninger, Konrad Seidel

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Titre Crossref: Enhanced TDDB reliability in superlattice based HZO ferroelectric films
Date Crossref: 01/06/2026
Éditeur: IEEE
Type: proceedings-article

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Où se fait cette recherche

Fraunhofer Institute for Photonic Microsystems pays non établi dans la notice
Structure de recherche
Center Nanoelectronic Technologies CNT pays non établi dans la notice
Institution

Fraunhofer Institute for Photonic Microsystems et Center Nanoelectronic Technologies CNT.

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