Nitrogen-vacancy-driven degradation mechanism in ferroelectric wurtzite AlScN
Rattachement africain : cn, hk. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
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DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Nitrogen-vacancy-driven degradation mechanism in ferroelectric wurtzite AlScN
- Date Crossref
- 13/08/2026
- Éditeur
- Springer Science and Business Media LLC
- Type
- journal-article
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Où se fait cette recherche
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Xidian University Hangzhou Institute of Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Xuzhou University of Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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City University of Hong Kong TRACE EM Unit and Department of Materials Science and Engineering pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Faculty of Integrated Circuit pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Hangzhou Institute of Technology — Xidian University, Xuzhou University of Technology et TRACE EM Unit and Department of Materials Science and Engineering — City University of Hong Kong, avec 1 autre affiliation.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.