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Accès ouvert déclaré 2026 preprint

Spatial resolution of X-ray beam-tracking microscopy

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1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : gb. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

X-ray beam-tracking is a phase-contrast imaging technique capable of simultaneously retrieving transmission, phase, and dark-field images. Although the spatial resolution in beam-tracking is largely considered to be 'aperture driven', no model yet exists to describe this in full. The dark-field channel is of particular interest, due to previous observations of anomalously high sharpness compared to transmission and phase channels. We derive a full optical transfer function model for each contrast channel using the Fokker-Planck equation for near-field imaging. Experimental validation using both synchrotron-based and laboratory-based setups, with 15 um circular and 10 um rectangular apertures, reveals a limiting resolution of at least 3 um, much smaller than the apertures themselves. Together, the model and the supporting experiments offer a full description of spatial resolution in beam-tracking, and formally confirm the greater spatial resolution in the dark-field channel. These findings open new possibilities in system design and experimental protocols to exploit these capabilities.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

Aucun DOI disponible pour le contrôle Crossref.

Où se fait cette recherche

  • University College London Department of Medical Physics and Biomedical Engineering pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Diamond Light Source pays non établi dans la notice
    Structure de recherche

Department of Medical Physics and Biomedical Engineering — University College London et Diamond Light Source.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Advanced X-ray Imaging TechniquesCrystallography and Radiation PhenomenaAdvanced Electron Microscopy Techniques and Applications

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