Boosting Productivity of a Direct Electron Beam Assisted Scanning Electron Microscope with a Multi-position Sample Turret
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Boosting Productivity of a Direct Electron Beam Assisted Scanning Electron Microscope with a Multi-position Sample Turret
- Date Crossref
- 01/01/2026
- Éditeur
- Springer Nature Switzerland
- Type
- book-chapter
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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Shizuoka University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Hamamatsu University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Graduate School of Engineering Department of Applied Chemistry and Biochemical Engineering pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Shizuoka University, Hamamatsu University et Department of Applied Chemistry and Biochemical Engineering — Graduate School of Engineering.
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