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Microdosimetry of Very-High-Energy Heavy Ion Beams for Electronics Testing Using Silicon-on-Insulator Detectors

Andreas Waets, Natalia Emriskova, Ruben Garcia Alia, Karolina Klimek, Vladimir Pan, Anatoly Rosenfeld, Linh T Tran, James Vohradsky, Angela Kok, Marco Povoli, Petteri Nieminen, Uwe Schneider

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