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Accès ouvert déclaré 2025 article

Enhancing hard X-ray beamline performance at SwissFEL through spontaneous radiation measurements

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Rattachement africain : ch, mt, de. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

The hard X-ray beamline (Aramis) of the Swiss free-electron laser (SwissFEL) has been in user operation since the end of 2017 and its performance has been continuously monitored and enhanced over the past eight years. From the beginning, spontaneous radiation has been utilized to monitor the behavior of its 13 individual undulator modules: the pointing direction of the electron beam in each module, their alignment relative to the electron beam, and the calibration of their magnetic field strength (K calibration). This article introduces the methods employed at the Aramis beamline to optimize performance using spontaneous radiation, traces the evolution of these improvements, and highlights the recently achieved record performance.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Enhancing hard X-ray beamline performance at SwissFEL through spontaneous radiation measurements
Date Crossref
01/01/2026
Éditeur
International Union of Crystallography (IUCr)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Paul Scherrer Institute pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • University of Malta pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY pays non établi dans la notice
    Structure de recherche

Paul Scherrer Institute, University of Malta et Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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