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2025 conference-paper

A PyMTL-Based Connectivity Verification Platform for Interface Model

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Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

The continuous scaling of semiconductor process nodes has driven the miniaturization of transistor feature sizes, significantly enhancing chip integration density while simultaneously causing exponential growth in design complexity. Very large-scale integrated circuits now encompass pin counts reaching thousands of nodes, posing unprecedented challenges to connectivity verification of interface models. To address these challenges, the hardware design domain is increasingly adopting high-level general-purpose programming languages to extend or replace traditional VHDL/Verilog methodologies. This paper develops a hierarchical and highly reusable connectivity verification platform based on the PyMTL framework, employing a systematic verification methodology to validate interface model connectivity. We conducted connectivity verification tests on the SPI interface and SRAM interface using a connectivity verification platform, and the experimental results demonstrated the functionality of the connectivity verification platform.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
A PyMTL-Based Connectivity Verification Platform for Interface Model
Date Crossref
11/07/2025
Éditeur
IEEE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • China Electronics Technology Group Corporation pays non établi dans la notice
    Entreprise
  • Harbin Institute of Technology pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Wuxi pays non établi dans la notice
    Institution

China Electronics Technology Group Corporation, Harbin Institute of Technology et Wuxi.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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