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2024 conference-paper

A Non-Invasive Microwave Impurities Detection System Based on Supervised Descent Method

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Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

In the field of impurities detection, microwave imaging has been widely used in recent years. This paper proposes a microwave non-invasive detection method. A microwave imaging system with a set of antennas around the area to be inspected is designed, which could avoid the reflection at the air-liquid interface. The system uses one-step supervised descent method to process the S-parameter results obtained from the simulation, which could qualitatively reconstruct the size and location information of the impurity. The feasibility and good detection performance of this microwave noninvasive detection system are preliminarily demonstrated.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
A Non-Invasive Microwave Impurities Detection System Based on Supervised Descent Method
Date Crossref
26/07/2024
Éditeur
IEEE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Sun Yat-sen University pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • South China University of Technology pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • School of Electronics and Communication Engineering pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • School of Microelectronics pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure

Sun Yat-sen University, South China University of Technology et School of Electronics and Communication Engineering, avec 1 autre affiliation.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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