Accessing d-d Excitations Around Misfit Dislocations in Strongly Correlated NiO Thin Films Using High Energy-Resolution EELS
Rattachement africain : fr, gb. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
International audience
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Le contrôle bibliographique ouvert
Où se fait cette recherche
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Matériaux Ingénierie et Science pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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University of York York-JEOL Nanocentre pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Institut de minéralogie pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Sci-Tech Daresbury pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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MATEIS - Matériaux pays non établi dans la noticeInstitution
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School of Physics pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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SuperSTEM Laboratory pays non établi dans la noticeStructure de recherche
Matériaux Ingénierie et Science, York-JEOL Nanocentre — University of York et Institut de minéralogie, avec 4 autres affiliations.
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