Analysis of Gas Detection Sensitivity of a Self Plasma-Optical Emission Spectrometer Using an N2 and Ar Gas-Mixing Evaluation System
Rattachement africain : kr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
A self plasma-optical emission spectrometer (SP-OES) is a sensor that analyzes the residual gases in an exhaust line by detecting the intrinsic wavelength of the species excited by the self-plasma module.SP-OESs are used in semiconductor processes, such as cleaning, etching, and deposition, for leak detection and process monitoring.In recent years, with the shrinking scale of semiconductor processes, detection of small variations in gas compositions has become crucial.Therefore, the sensitivity of SP-OESs must be analyzed and optimized for advanced process monitoring in the future.However, the SP-OES detection sensitivity has been rarely quantitatively evaluated and optimized.In this study, various parameters that affect the detection sensitivity of SP-OESs were analyzed and optimized using a gas-mixing system to determine the dependence of the sensitivity on a predetermined gas-mixing ratio.The limit of detection was obtained to evaluate the sensitivity of SP-OESs.Parameters such as the integration time for photon collection, pressure under the self-plasma module, and selected wavelength were analyzed to improve the sensitivity of SP-OESs.
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé, mais le titre doit être comparé manuellement.
- Titre Crossref
- Analysis of Gas Detection Sensitivity of a Self Plasma-Optical Emission Spectrometer Using an N<sub>2</sub> and Ar Gas-Mixing Evaluation System
- Date Crossref
- 30/09/2024
- Éditeur
- The Korean Vacuum Society
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
-
Chungnam National University Department of Physics pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Korea Institute of Machinery & Materials pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
Semiconductor Manufacturing Research Center pays non établi dans la noticeStructure de recherche
Department of Physics — Chungnam National University, Korea Institute of Machinery & Materials et Semiconductor Manufacturing Research Center.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.