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2024 conference-paper

Gate oxide reliability: upcoming trends, challenges, and opportunities

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1Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : be. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Any product that stops functioning before its declared useful lifetime will be deemed substandard at best, dangerous or fatal at worst. Integrated circuits (ICs) are typically a part of a larger product, which, depending on the target market, may be expected to operate reliably for up to multiple decades, often in extreme environments, and in mission-critical applications. It is therefore essential that reliability is engineered into the ICs and their individual components already during their development, and not ignored altogether, or merely evaluated as an afterthought.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Gate oxide reliability: upcoming trends, challenges, and opportunities
Date Crossref
15/06/2024
Éditeur
IEEE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • IMEC pays non établi dans la notice
    Organisation à but non lucratif
  • TU Vienna pays non établi dans la notice
    Institution

IMEC et TU Vienna.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Semiconductor materials and devicesIntegrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis

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