Author Correction: Sub-femtonewton force sensing in solution by super-resolved photonic force microscopy
0Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
16Institutions déclarées
5Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : cn, au, us, hk, nz. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Author Correction: Sub-femtonewton force sensing in solution by super-resolved photonic force microscopy
- Date Crossref
- 15/08/2024
- Éditeur
- Springer Science and Business Media LLC
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
-
Beihang University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
University of Technology Sydney pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Nanomaterials Research (United States) pays non établi dans la noticeEntreprise
-
Australian National University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Australian Research Council pays non établi dans la noticeOrganisme public
-
The University of Melbourne pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
UNSW Sydney pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Shaanxi Normal University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Peking University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Beijing National Laboratory for Molecular Sciences pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
State Key Laboratory of Rare Earth Materials Chemistry and Application pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
University of Hong Kong pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Beihang University, University of Technology Sydney et Nanomaterials Research (United States), avec 9 autres affiliations.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
Les sujets associés
Force Microscopy Techniques and Applications