Demonstration of bias scheme for ferroelectric field-effect transistor (FeFET) based AND array operation
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DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Demonstration of bias scheme for ferroelectric field-effect transistor (FeFET) based AND array operation
- Date Crossref
- 01/06/2024
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
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Où se fait cette recherche
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Sogang University Department of Electronics Engineering pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Georgia Institute of Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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School of Electrical and Computer Engineering pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Department of Electronics Engineering — Sogang University, Georgia Institute of Technology et School of Electrical and Computer Engineering.
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