Accelerated deep self-supervised ptycho-laminography for three-dimensional nanoscale imaging of integrated circuits
Rattachement africain : us, ch, sg. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Three-dimensional inspection of nanostructures such as integrated circuits is important for security and reliability assurance. Two scanning operations are required: ptychographic to recover the complex transmissivity of the specimen, and rotation of the specimen to acquire multiple projections covering the 3D spatial frequency domain. Two types of rotational scanning are possible: tomographic and laminographic. For flat, extended samples, for which the full 180° coverage is not possible, the latter is preferable because it provides better coverage of the 3D spatial frequency domain compared to limited-angle tomography. It is also because the amount of attenuation through the sample is approximately the same for all projections. However, both techniques are time consuming because of extensive acquisition and computation time. Here, we demonstrate the acceleration of ptycho-laminographic reconstruction of integrated circuits with 16 times fewer angular samples and 4.67 times faster computation by using a physics-regularized deep self-supervised learning architecture. We check the fidelity of our reconstruction against a densely sampled reconstruction that uses full scanning and no learning. As already reported elsewhere [ Opt. Express 28 , 12872 ( 2020 ) OPEXFF 1094-4087 10.1364/OE.379200 ], we observe improvement of reconstruction quality even over the densely sampled reconstruction, due to the ability of the self-supervised learning kernel to fill the missing cone.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Accelerated deep self-supervised ptycho-laminography for three-dimensional nanoscale imaging of integrated circuits
- Date Crossref
- 26/07/2023
- Éditeur
- Optica Publishing Group
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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Massachusetts Institute of Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Argonne National Laboratory pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Paul Scherrer Institute pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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École Polytechnique Fédérale de Lausanne pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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University of Southern California pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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California Southern University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Singapore-MIT Alliance for Research and Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Massachusetts Institute of Technology, Argonne National Laboratory et Paul Scherrer Institute, avec 4 autres affiliations.
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