Improved Drain-source Voltage Detection Method for Short-circuit Protection of SiC MOSFET
Rattachement africain : cn, dk. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
The importance of short-circuit protection in the driving scheme is self-evident, and the key is the realization of fast and accurate short-circuit fault detection. The traditional drain-source voltage$(V_{\text{ds}})$short-circuit detection method sacrifices the speed to ensure the reliability of short-circuit protection by setting a relatively large blanking time constant. However, the shorter short-circuit withstand time of SiC MOSFET puts forward a higher requirement of short-circuit protection. Therefore, the improved$V_{\text{ds}}$short-circuit detection method proposed in this article enhances the self-adaptation to different short-circuit faults of SiC MOSFET, as a result speeding up the protection speed.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Improved Drain-source Voltage Detection Method for Short-circuit Protection of SiC MOSFET
- Date Crossref
- 24/08/2022
- Éditeur
- IEEE
- Type
- proceedings-article
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Où se fait cette recherche
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China University of Mining and Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Aalborg University Center of Reliable Power Electronics pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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School of Electrical Engineering pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
China University of Mining and Technology, Center of Reliable Power Electronics — Aalborg University et School of Electrical Engineering.
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