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Accès ouvert déclaré 2022 article

Enhanced detection of threat materials by dark-field x-ray imaging combined with deep neural networks

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2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : gb, it. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

X-ray imaging has been boosted by the introduction of phase-based methods. Detail visibility is enhanced in phase contrast images, and dark-field images are sensitive to inhomogeneities on a length scale below the system's spatial resolution. Here we show that dark-field creates a texture which is characteristic of the imaged material, and that its combination with conventional attenuation leads to an improved discrimination of threat materials. We show that remaining ambiguities can be resolved by exploiting the different energy dependence of the dark-field and attenuation signals. Furthermore, we demonstrate that the dark-field texture is well-suited for identification through machine learning approaches through two proof-of-concept studies. In both cases, application of the same approaches to datasets from which the dark-field images were removed led to a clear degradation in performance. While the small scale of these studies means further research is required, results indicate potential for a combined use of dark-field and deep neural networks in security applications and beyond.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Enhanced detection of threat materials by dark-field x-ray imaging combined with deep neural networks
Date Crossref
09/09/2022
Éditeur
Springer Science and Business Media LLC
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Advanced X-ray Imaging TechniquesAdvanced X-ray and CT ImagingNuclear Physics and Applications

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