Application of deuterium oxide (D2O) isotope tracing technique for encapsulated QFN failure analysis
Rattachement africain : sg. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
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DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Application of deuterium oxide (D2O) isotope tracing technique for encapsulated QFN failure analysis
- Date Crossref
- 01/08/2022
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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Singapore Science Park pays non établi dans la noticeInstitution
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WinTech Nano-Technology Services Pte. Ltd. Wintech-Nano (Suzhou) Co. pays non établi dans la noticeEntreprise
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Gigadevice Semiconductor (Beijing) pays non établi dans la noticeInstitution
Singapore Science Park, Wintech-Nano (Suzhou) Co. — WinTech Nano-Technology Services Pte. Ltd. et Gigadevice Semiconductor (Beijing).
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