Aller au contenu principal
Accès ouvert déclaré 2021 article

Taking away PAIN: enabling new structures of the Nav1.7 sodium channel by cryo-EM

0Citations signalées — pas une note de qualité
1Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Résumé fourni par la source

Mutations in human voltage-gated sodium channels are associated with a range of neurological and cardiovascular diseases. For example, loss-of-function mutations in Nav1.7 cause a striking congenital insensitivity to pain, whereas gain-of-function mutations are associated with persistent pain disorders. These opposing phenotypes define Nav1.7 as integral to pain perception and have motivated intense efforts to design therapeutics that selectively and potently inhibit its activity. Previously, we reported that the aryl sulfonamide class of Nav1.7 antagonists of Nav1.7 bind to the activated state of voltage sensor domain IV (VSD4), inhibiting the channel through a voltage-sensor trapping mechanism to oppose channel deactivation. In this talk, I will present our establishment of a new, robust system for the determination of many additional high-resolution structures of Nav1.7 bound to other small molecule series, the unexpected mechanism of action of the acyl sulfonamide class of antagonists, and the use of these structures to guide the design of a new 'hybrid' class of inhibitors.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Taking away PAIN: enabling new structures of the Nav1.7 sodium channel by cryo-EM
Date Crossref
30/07/2021
Éditeur
International Union of Crystallography (IUCr)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude et ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Sujets associés

Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Recherche à la demande dans Crossref et Europe PMC, sans clé ; OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant requis, aucune réponse conservée. Sources et limites.