Automatic device for testing thermal resistance with thermoelectric effect
Rattachement africain : ru. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Abstract This paper presents the results of the developed device for testing thermal resistance of thermointerface. Experiments to determine thermal resistance in different cases of thermal interface application were carried out. Dependence of thermoEMF value is obtained, which occurs between semiconductor element body and cooling system radiator at different quality of thermal interface application.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Automatic device for testing thermal resistance with thermoelectric effect
- Date Crossref
- 01/03/2020
- Éditeur
- IOP Publishing
- Type
- journal-article
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Les institutions déclarées
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