Sensing high frequency sub-nanometer vibrations using optical coherence tomography with real-time profilometry of multiple inner layers
6Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
1Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : in. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Sensing high frequency sub-nanometer vibrations using optical coherence tomography with real-time profilometry of multiple inner layers
- Date Crossref
- 01/04/2020
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
-
Sri Sathya Sai Institute of Higher Learning Department of Physics pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Department of Physics — Sri Sathya Sai Institute of Higher Learning.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
Les sujets associés
Optical Coherence Tomography ApplicationsPhotoacoustic and Ultrasonic ImagingCorneal surgery and disorders