Trap-Assisted Tunneling Effects on Gate-Induced Drain Leakage in Silicon-Germanium Channel pFET
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- Titre Crossref
- Trap-Assisted Tunneling Effects on Gate-Induced Drain Leakage in Silicon-Germanium Channel pFET
- Date Crossref
- 29/09/2015
- Éditeur
- The Japan Society of Applied Physics
- Type
- proceedings-article
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