Measurements of B→ Ds+ X decays
Rattachement africain : us, ca. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
This paper describes new measurements from CLEO of the inclusive B\ensuremath{\rightarrow}${\mathit{D}}_{\mathit{s}}^{+}$X branching fraction as well as the ${\mathit{B}}^{+}$\ensuremath{\rightarrow}${\mathit{D}}_{\mathit{s}}^{(\mathrm{*})+}$D${\mathrm{\ifmmode\bar\else\textasciimacron\fi{}}}^{(\mathrm{*})0}$ and ${\mathit{B}}^{0}$\ensuremath{\rightarrow}${\mathit{D}}_{\mathit{s}}^{(\mathrm{*})+}$${\mathit{D}}^{(\mathrm{*})\mathrm{\ensuremath{-}}}$ branching fractions. The inclusive branching fraction is B(B\ensuremath{\rightarrow}${\mathit{D}}_{\mathit{s}}^{+}$X)=(12.11\ifmmode\pm\else\textpm\fi{}0.39\ifmmode\pm\else\textpm\fi{}0.88\ifmmode\pm\else\textpm\fi{}1.38)% where the first error is statistical, the second is the systematic error, and the third is the error due to the uncertainty in the ${\mathit{D}}_{\mathit{s}}^{+}$\ensuremath{\rightarrow}\ensuremath{\varphi}${\mathrm{\ensuremath{\pi}}}^{+}$ branching fraction. The branching fractions for the B\ensuremath{\rightarrow}${\mathit{D}}_{\mathit{s}}^{(\mathrm{*})+}$D${\mathrm{\ifmmode\bar\else\textasciimacron\fi{}}}^{(\mathrm{*})}$ modes are found to be between 0.9% and 2.4% and are significantly more precise than previous measurements. The sum of the B\ensuremath{\rightarrow}${\mathit{D}}_{\mathit{s}}^{(\mathrm{*})+}$D${\mathrm{\ifmmode\bar\else\textasciimacron\fi{}}}^{(\mathrm{*})}$ branching fractions is consistent with the results of fits to the inclusive ${\mathit{D}}_{\mathit{s}}^{+}$ momentum spectrum. Factorization is used to arrive at a value for ${\mathit{f}}_{{\mathit{D}}_{\mathit{s}}}$, the ${\mathit{D}}_{\mathit{s}}^{+}$ decay constant. \textcopyright{} 1996 The American Physical Society.
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé, mais le titre doit être comparé manuellement.
- Titre Crossref
- Measurements of B→<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><mml:mrow><mml:msubsup><mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">D</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">s</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mo>+</mml:mo></mml:mrow></mml:msubsup></mml:mrow></mml:math>X decays
- Date Crossref
- 01/05/1996
- Éditeur
- American Physical Society (APS)
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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Virginia Tech pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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California Institute of Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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University of California San Diego pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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University of California pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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University of Colorado Boulder pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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University of Colorado System pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Cornell University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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University of Florida pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Harvard University Press pays non établi dans la noticeInstitution
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University of Illinois Urbana-Champaign pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Carleton University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Institute of Particle Physics pays non établi dans la noticeOrganisation à but non lucratif
Virginia Tech, California Institute of Technology et University of California San Diego, avec 9 autres affiliations.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.