The high-acceptance dielectron spectrometer HADES

G. Agakichiev, C. Agodi, H. Álvarez-Pol, E. Atkin, E. Badura, A. Balanda, Angelo Bassi, R. Bassini, G. Bellia, D. Belver, A. Belyaev, M. Benovič, D. Bertini, J. Bielcik, M. Böhmer, C. Boiano, H. Bokemeyer, A. Bartolotti, J. L. Boyard, S. Brambilla, P. Braun-Munzinger, P. Cabanelas, E. Castro, V. F. Chepurnov, S. Chernenko, T. Christ, R. Coniglione, L. Coséntino, M. Dahlinger, H. Daues, M. Destefanis, J. Dı́az, F. Dohrmann, R. Dressler, I. Durán, A. Dybczak, T. Eberl, W. Enghardt, L. Fabbietti, O. Fateev, C. Fernández, P. Finocchiaro, J. Friese, I. Fröhlich, B. Fuentes, T. Galatyuk, C. Garabatos, J. A. Garzón, B. Génolini, R. Gernhäuser, C. Gilardi, H. Albert Gilg, M. Golubeva, D. González-Díaz, E. Grosse, F. Guber, J. Hehner, K. Heidel, T. Heinz, T. Hennino, S. Hlaváč, J. Hoffmann, R. Holzmann, J. Homolka, J. Hutsch, A. P. Ierusalimov, I. Iori, A. Ivashkin, Marian Jaskuła, J.C. Jourdain, M. Jurkovic, B. Kämpfer, M. Kajetanowicz, K. Kanaki, T. Karavicheva, A. Kastenmüller, L. Kidoń, P. Kienle, D. Kirschner, I. Köenig, Wolfgang Köenig, H.J. Körner, B. W. Kolb, U. Köpf, K. Korcyl, R. Kotte, A. Kozuch, F. Krizek, R. Krücken, W. Kühn, A. Kugler, R. Kulessa, A. Kurepin, T. Kurtukian‐Nieto, Stephan Lang, J. S. Lange, K. Lapidus, J. Lehnert, U. Leinberger, C. Lichtblau, E. Lins, C. Lippmann, M. Lorenz, D. Magestro, L. Maier, P. Maier‐Komor, C. Maiolino, A. Malarz, Tomáš Marek, J. Markert, V. Metag, B. Michalska, J. Michel, E. Migneco, D. Mishra, E. Morinière, J. Mousa, M. Münch, C. Müntz, L. Naumann, A. Nekhaev, W. Niebur, Jiří Novotný, R. Novotny, W. Ott, J. Otwinowski, Y. Pachmayer, M. Pałka, Y. Parpottas, V. Pechenov, O. Pechenova, T. Pérez Cavalcanti, M. Petri, P. Piattelli, J. Pietraszko, R. Pleskač, M. Płoskoń, V. Pospíšil, J. Pouthas, W. Prokopowicz, Witold Wojciech Przygoda, B. Ramstein, A. Reshetin, J. Ritman, G. Roche, Gonzalo Rodríguez Prieto, Karin Rosenkranz, P. Rosier, M. Roy-Stéphan, A. Rustamov, Juan Sabín, A. Sadovsky, B. Sailer, P. Salabura, C. Salz, M.L. Sánchez, P. Sapienza, D. Schäfer, R. Schicker, A. M. Schmah, H. Schön, Wolfgang Schön, C. Schroeder, S. Schroeder, E. Schwab, P. Senger, K. Shileev, R.S. Simon, Maximilian W. A. Skoda, V. Smolyankin, L. Smykov, M. Sobiella, Yu. G. Sobolev, S. Spataro, B. Spruck, H. Stelzer, H. Ströbele, J. Stroth, C. Sturm, M. Sudoł, M. Suk, M. Szczybura, A. Taranenko, A. Tarantola, K. Teilab, V. Tiflov, A. Tikhonov, P. Tlustý, A. Toia, M. Traxler, R. Trȩbacz, A. Yu. Troyan, H. Tsertos, I. Turzo, A. Ulrich, Dmitri Vassiliev, A. Vázquez, Yu. N. Volkov, V. Wagner, C. Wallner, W. Waluś, Y. Wang, M. Weber, J. Wieser, S. Winkler, M. Wiśniowski, Tomasz Wójcik, J. Wüstenfeld, S. Yurevich, Y. Zanevsky, K. Zeitelhack, A. Zentek, Pei Zhou, D. Žovinec, P. Zumbruch

Rattachement africain : de, it, es, ru, pl, sk, fr, cz, cy. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.