Resistance measurements of metallic silicide nanowires on a Si substrate with a four-tip scanning tunneling microscope
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Le résumé fourni par la source
We have measured electrical resistance of individual epitaxial CoSi2 nanowires (NWs) formed on a Si(110) surface in situ in ultrahigh vacuum, by two-, three-, and four-point probe methods using a multi-tip scanning tunneling microscope at room temperature. The NWs were electrically isolated from the substrate by a Schottky barrier in-between with zero-bias resistance of approximately 107 Ω. Contact resistance between a W tip and a NW was as small as several tens Ω. The resistivity of the NWs was ca. 30 μΩcm, which is similar to that of high-quality epitaxial CoSi2 films. The oxidation of the NW surface had negligible influence on the resistance, meaning marginal carrier scattering at the NW surface. [DOI: 10.1380/ejssnt.2005.362]
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Resistance measurements of metallic silicide nanowires on a Si substrate with a four-tip scanning tunneling microscope
- Date Crossref
- 01/01/2005
- Éditeur
- Surface Science Society Japan
- Type
- journal-article
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Où se fait cette recherche
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Tokyo University of Science pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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The University of Tokyo pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Arizona State University Department of Physics and Astronomy pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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School of Science Department of Physics pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Tokyo University of Science, The University of Tokyo et Department of Physics and Astronomy — Arizona State University, avec 1 autre affiliation.
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