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1999 article

Atomistic investigation of various GaN (0001) phases on the 6H−SiC (0001) surface

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2Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : jp, cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

A number of superstructures of the GaN (0001) surface have been investigated systematically by reflection high-energy electron diffraction, scanning tunneling microscopy, and first-principles theoretical calculations. The GaN-thin films are grown on the Si-terminated 6H-SiC (0001) surface by an N plasma-assisted molecular-beam epitaxy under the Ga-rich condition. While the as-grown GaN surface is revealed to be a featureless 1\ifmmode\times\else\texttimes\fi{}1 structure, post-growth deposition of Ga at lower temperatures results in the formation of a series of ordered structures, such as 2\ifmmode\times\else\texttimes\fi{}2, 4\ifmmode\times\else\texttimes\fi{}4, 5\ifmmode\times\else\texttimes\fi{}5, $5\sqrt{3}\ifmmode\times\else\texttimes\fi{}2\sqrt{13}$, $\sqrt{7}\ifmmode\times\else\texttimes\fi{}\sqrt{7}$, and 10\ifmmode\times\else\texttimes\fi{}10 in the order of the increasing Ga coverage. An 1\ifmmode\times\else\texttimes\fi{}1-Ga-fluid structure is obtained with the highest Ga coverage. Neither ordered structure nor smooth morphology has been observed under the N-rich regime. We conclude that the atomic structures of all these Ga-rich phases can be described best by a Ga-adatom scheme. We further show that the 5\ifmmode\times\else\texttimes\fi{}5 and $5\sqrt{3}\ifmmode\times\else\texttimes\fi{}2\sqrt{13}$ phases are two configurations that exhibit a unique one-dimensional characteristic in the adatom arrangement. Their structures can be understood by Peierls distortion against Fermi-surface instability under the Ga-adatom scheme.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé, mais le titre doit être comparé manuellement.

Titre Crossref
Atomistic investigation of various GaN (0001) phases on the<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><mml:mn>6</mml:mn><mml:mi mathvariant="normal">H</mml:mi><mml:mo>−</mml:mo><mml:mi mathvariant="normal">SiC</mml:mi></mml:math>(0001) surface
Date Crossref
15/05/1999
Éditeur
American Physical Society (APS)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Tohoku University Institute for Materials Research pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Institute of Physics pays non établi dans la notice
    Structure de recherche
  • National Research Institute of Metals pays non établi dans la notice
    Structure de recherche

Institute for Materials Research — Tohoku University, Institute of Physics et National Research Institute of Metals.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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