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2011 conference-paper

TXM-NEXAFS of TiO[sub 2]-Based Nanostructures

2Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
7Institutions déclarées
4Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : de, be, si, fr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

In this work, electronic properties of individual TiO x -pristine nanoribbons (NR) prepared by hydrothermal treatment of anatase TiO 2 micro-particles were studied using the HZB transmission x-ray microscope (TXM) at the BESSY II undulator beamline U41-FSGM.NEXAFS is ideally suited to study TiO 2 -based materials because both the O K-edge and Ti L-edge features are very sensitive to the local bonding environment, providing diagnostic information about the crystal structures and oxidation states of various forms of titanium oxides and sub-oxides.TXM-NEXAFS combines full-field x-ray microscopy with spectroscopy, allowing the study of the electronic structure of individual nanostructures with spatial resolution better than 25 nm and a spectral resolution of up to E/∆E = 10000.The typical image field in TXM-NEXAFS measurements is about 10 µm  10 µm, which is large compared to the individual nanoparticle.Therefore, one image stack already contains statistically significant data.In addition, the directional electric field vector (Ē) of the x-rays can be used as a "search tool" for the direction of chemical bonds of the atom selected by its absorption edge.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
TXM-NEXAFS of TiO[sub 2]-Based Nanostructures
Date Crossref
01/01/2011
Éditeur
AIP
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Electron and X-Ray Spectroscopy TechniquesX-ray Spectroscopy and Fluorescence AnalysisAdvanced Electron Microscopy Techniques and Applications

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