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2009 article

14 bit 50 MS/s 0.18 µm CMOS pipeline ADC based on digital error calibration

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1Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : kr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Described is a 14 bit 50 MS/s CMOS four-stage pipeline A/D converter (ADC)-based on a digital code-error calibration. The proposed calibration technique measures the capacitor mismatch errors of the front-end multiplying DAC (MDAC) with the back-end pipeline stages while the measured code errors are stored in memory and corrected in the digital domain during normal conversion. The calibration needs the increased power dissipation and chip area of 1.4% and 10.7%, respectively, compared to a 14 bit uncalibrated conventional pipeline ADC. The prototype ADC fabricated in a 0.18um CMOS process occupies an active die area of 4.2 mm2 and consumes 140 mW at 1.8 V and 50 MS/s. After calibration, the measured DNL and INL of the ADC are improved from 0.69 to 0.39 LSB and from 33.60 to 2.76 LSB, respectively.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
14 bit 50 MS/s 0.18 µm CMOS pipeline ADC based on digital error calibration
Date Crossref
08/10/2009
Éditeur
Institution of Engineering and Technology (IET)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Sogang University Department of Electronic Engineering pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure

Department of Electronic Engineering — Sogang University.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Analog and Mixed-Signal Circuit DesignCCD and CMOS Imaging SensorsAdvancements in Semiconductor Devices and Circuit Design

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