Monte Carlo Study of Coupled SO Scattering in Si MOSFETs with High κ- Dielectric Gate Stacks: Hot Electron and Disorder Effects
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Monte Carlo Study of Coupled SO Scattering in Si MOSFETs with High κ- Dielectric Gate Stacks: Hot Electron and Disorder Effects
- Date Crossref
- 12/12/2007
- Éditeur
- Springer Berlin Heidelberg
- Type
- book-chapter
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Où se fait cette recherche
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University of Glasgow Department of Electronics and Electrical Engineering pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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SEMATECH pays non établi dans la noticeInstitution
Department of Electronics and Electrical Engineering — University of Glasgow et SEMATECH.
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