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2015 article

Reducing forward bias voltage of InGaN/GaN-based light emitting diodes by using (In)GaN contact layer

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Rattachement africain : kr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Reducing forward bias voltage of InGaN/GaN-based light emitting diodes by using (In)GaN contact layer, Kang, Daesung, Han, Younghun, Kang, Donghun, Kyoung, Hyunai, Jeong, Hwanhee, Song, June-O, Kim, Dae-Hyun, Seong, Tae-Yeon

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Reducing forward bias voltage of InGaN/GaN-based light emitting diodes by using (In)GaN contact layer
Date Crossref
26/05/2015
Éditeur
IOP Publishing
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

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Les sujets associés

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