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2004 conference-paper

Highly area efficient and cost effective double stacked S/sup 3/ (stacked single-crystal Si) peripheral CMOS SSTFT and SRAM cell technology for 512M bit density SRAM

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Rattachement africain : kr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

For the first time, the highest density SRAM, such as 512M bit SRAM, is developed by implementing the smallest 25F/sup 2/S/sup 3/ SRAM cell technology, whose cell size is 0.16/spl mu/m/sup 2/, and area saving peripheral SSTFT (stacked single-crystal thin film transistor) technology. The SSTFT are used as the peripheral CMOS transistors as well as the cell transistors to save area to make the SRAM products comparative to the DRAM cell based products in the density and the cost. In the S/sup 3/ SRAM cell, the load PMOS and pass NMOS transistors are stacked over the planar pull-down NMOS transistors to drastically reduce the cell size. Also, in a periphery, the core logic transistors are stacked on the ILD to save the layout area for maximizing cell efficiency for the products.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Highly area efficient and cost effective double stacked S/sup 3/ (stacked single-crystal Si) peripheral CMOS SSTFT and SRAM cell technology for 512M bit density SRAM
Date Crossref
01/01/2004
Éditeur
IEEE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Samsung (South Korea) pays non établi dans la notice
    Entreprise
  • Yongin Samsung Electron. pays non établi dans la notice
    Organisation à but non lucratif

Samsung (South Korea) et Samsung Electron. — Yongin.

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