Application of randomization test in concealed information test
Michiko Tsuneoka, Reo Takahashi, Tokihiro Ogawa, Yusuke Shibuya
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Michiko Tsuneoka, Reo Takahashi, Tokihiro Ogawa, Yusuke Shibuya
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Tomohiro KOYANO, Yusuke Shibuya, Tatsuaki FURUMOTO, Akira Hosokawa
A coupled analysis of electric fields and a circuit equation analysis of the pulse-power supply circuit incorporating stray inductance was undertaken to determine the reason for not achieving machining with a short pulse duration with the increase in the machining area in …
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Reo Takahashi, Michiko Tsuneoka, Yusuke Shibuya, Tokihiro Ogawa
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Michiko Tsuneoka, Tokihiro Ogawa, Reo Takahashi, Izumi Matsuda et autres
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Yusuke Shibuya, Tokihiro Ogawa, Michiko Tsuneoka, Reo Takahashi
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