Exploring 4D-STEM in SEM with an event-driven direct electron detector: Low-dose, high-speed, and sparse data
Bowen Liu, Zheng Hu, Walter van Bodegom, Dmitry Byelov et autres
cn, nl (code pays fourni par la source)
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Bowen Liu, Zheng Hu, Walter van Bodegom, Dmitry Byelov et autres
cn, nl (code pays fourni par la source)
Arthur Zhao, M. van Beuzekom, Bram Bouwens, Dmitry Byelov et autres
us, nl, cn, cz (code pays fourni par la source)
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