Impact of Surface Treatment on Noise in PL-Measurements of Silicon Vacancies in 4H-SiC Lateral pin-Diodes
Jannik H. Schwarberg, Fabian J. Magerl, Susanne Beuer, Alexander May et autres
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Jannik H. Schwarberg, Fabian J. Magerl, Susanne Beuer, Alexander May et autres
Millie Long, Jessica R. Allegretti, Silvio Danese, Matthew Germinaro et autres
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Johannes F.E. Mann, Nikolaus Marx, John Deanfield, Scott S. Emerson et autres
de, gb, pk, us, ca, dk, Afrique du Sud, ua, es, mx, tw (code pays fourni par la source)
David T. Rubin, Jessica R. Allegretti, Julián Panés, Nicole Shipitofsky et autres
us, es, cn, ca, jp, fr, de, ua (code pays fourni par la source)
Laurent Peyrin‐Biroulet, Jessica R. Allegretti, David T. Rubin, Brian Bressler et autres
fr, ca, us, es, jp, de (code pays fourni par la source)
Adrian F. Hernandez, Jennifer B. Green, Salim Janmohamed, Ralph B. D’Agostino et autres
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Ulrich Julius, W. Leonhardt, J Schulze, K Schollberg et autres
de (code pays fourni par la source)
Antje Bergmann, J. Li, T. Selisko, M. Reimann et autres
de (code pays fourni par la source)
Karen L. Jones, J Schulze, J. R. Strickland, D. L. Cross et autres
us, ca (code pays fourni par la source)
J. Li, M. Reimann, Aletta E. Schutte, Antje Bergmann et autres
de, Afrique du Sud, us (code pays fourni par la source)
Ulrike Gruhl, Andrea Schuppenies, J Schulze, Stefan R. Bornstein et autres
au (code pays fourni par la source)
Peter E. H. Schwarz, Srinivas Govindarajalu, G. Towers, Uta Schwanebeck et autres
de (code pays fourni par la source)
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