Two-dimensional materials for advanced back-end-of-line and wafer backside technologies
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6Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : hk, ca. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Two-dimensional materials for advanced back-end-of-line and wafer backside technologies
- Date Crossref
- 17/09/2026
- Éditeur
- Springer Science and Business Media LLC
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
Hong Kong Baptist UniversityEducation University of Hong KongUniversity of Hong KongHKU-Pasteur Research PoleFuture EarthHang Seng University of Hong Kong
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
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