2026 article

Degradation monitoring of perovskite films by spectroscopic ellipsometry and its effect on device optical performance

Liyuan Ma, Xipeng Xu, Han Tong, Changcai Cui, Tukun Li, Yuchu Qin, Shan Lou, Wenhan Zeng

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Titre Crossref
Degradation monitoring of perovskite films by spectroscopic ellipsometry and its effect on device optical performance
Date Crossref
01/11/2026
Éditeur
Elsevier BV
Type
journal-article

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Perovskite Materials and ApplicationsOptical Polarization and EllipsometryChemical and Physical Properties of Materials
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