P‐14.3: A Ray‐Tracing‐Based Modeling Framework for Backlight Leakage in OLED Displays
Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
We developed a geometric ray‐tracing simulation model for OLED screen modules to study camera hole backlight leakage and fingerprint pattern interference. The model uses Monte Carlo ray tracing to replicate the intensity of reverse light leakage from the camera hole and the leakage patterns of metal traces in the under‐display fingerprint area. Simulation results were validated by actual measurements.
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- P‐14.3: A Ray‐Tracing‐Based Modeling Framework for Backlight Leakage in OLED Displays
- Date Crossref
- 01/08/2026
- Éditeur
- Wiley
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
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