Laboratory micro-photoluminescence polarization analysis for discriminating crystallographic defects in silicon
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Laboratory micro-photoluminescence polarization analysis for discriminating crystallographic defects in silicon
- Date Crossref
- 01/01/2027
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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STMicroelectronics (Italy) pays non établi dans la noticeEntreprise
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University of Milan pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Department of Physics pays non établi dans la noticeInstitution
STMicroelectronics (Italy), University of Milan et Department of Physics.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
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