Accès ouvert déclaré 2016 article

The First Demonstration of the Concept of “narrow-FOV Si/CdTe semiconductor Compton camera”

Yuto Ichinohe, Yusuke Uchida, Shin Watanabe, Ikumi Edahiro, Katsuhiro Hayashi, 貴文 河野, 雅功 大野, 方之 太田, Shin’ichiro Takeda, 泰司 深沢, Miho Katsuragawa, 知洋 中澤, Hirokazu Odaka, Hiroyasu TAJIMA, Hiromitsu TAKAHASHI, 忠幸 高橋, 孝行 湯浅, Yuusuke Uchida, Takafumi Kawano, Masanori OHNO, Masayuki Ohta, Yasushi Fukazawa, Kazuhiro Nakazawa, Tadayuki Takahashi, Takayuki Yuasa

0Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
0Institutions déclarées
0Pays d’affiliation déclarés
Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.

Le contrôle bibliographique ouvert

Aucun DOI disponible pour le contrôle Crossref.

Les sujets associés

Advanced Semiconductor Detectors and MaterialsDigital Radiography and Breast ImagingRadiation Detection and Scintillator Technologies
Consulter la publication primaire

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.