Linear dichroic soft X-ray microscopy of ferroelectric stripe domains in epitaxial K$_{0.6}$Na$_{0.4}$NbO$_{3}$
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6Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : de, se. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Datasets for soft X-ray analysis of epitaxial K$_{0.6}$Na$_{0.4}$NbO$_{3}$ thin films on TbScO$_3$ substrates: STXM (O K-edge) Resonant X-ray Scattering (O K-edge and Nb M-edge) Fourier Transform Holography data (O K-edge)
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
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Les institutions déclarées
Max-Born-Institute for Nonlinear Optics and Short Pulse SpectroscopyUniversity of AugsburgHelmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und EnergieMAX IV LaboratoryTechnische Universität BerlinLeibniz Institute for Crystal Growth
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