β-Ga 2 O 3 Device In-Situ Temperature Measurement Using Micro/Nano Fluorescence Fiber Optic SPM Probe
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Le contrôle bibliographique ouvert
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- Titre Crossref
- β-Ga <sub>2</sub> O <sub>3</sub> Device In-Situ Temperature Measurement Using Micro/Nano Fluorescence Fiber Optic SPM Probe
- Date Crossref
- 01/01/2026
- Éditeur
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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Shanghai University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Fudan University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Hong Kong Polytechnic University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Shanghai University, Fudan University et Hong Kong Polytechnic University.
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