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Accès ouvert déclaré 2026 article

Run-Disjoint Few-Shot XGBoost Framework for Compound Fault Diagnosis of Induction Motors

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Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Few-shot compound fault diagnosis of induction motors can be overestimated when correlated windows from the same continuous run are split across support and query sets. This study develops a run-disjoint few-shot framework in which each complete experimental run is treated as one shot and support and query sets are separated by run ID. Forty-eight multidomain features are extracted from synchronized triaxial vibration windows, classified using task-specific XGBoost, and aggregated to obtain run-level predictions; TreeSHAP provides post hoc feature attribution. In a matched comparison with identical query runs and windows, window-mixed partitioning increased the task-level mean run-level Macro-F1 from 0.9212 to 0.9934. After repeated predictions were aggregated over 108 unique query runs, the corresponding difference was 0.0093 with a 95% paired-bootstrap confidence interval of [0.0000, 0.0282], showing that the estimated magnitude depends on the statistical unit. Under the predefined strict 3-shot protocol, XGBoost achieved a Macro-F1 of 0.9263 and run-level accuracy of 0.9292. Additional sensitivity and controlled comparisons showed that performance depends on within-run sampling, representation, and classifier design, while strict cross-speed tests revealed the limitation of fixed-frequency features under rotational-speed shifts. The framework provides a leakage-aware evaluation procedure for few-shot compound-fault diagnosis using independently labeled runs.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Run-Disjoint Few-Shot XGBoost Framework for Compound Fault Diagnosis of Induction Motors
Date Crossref
24/08/2026
Éditeur
MDPI AG
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

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Les sujets associés

Machine Fault Diagnosis TechniquesVLSI and Analog Circuit TestingMultilevel Inverters and Converters

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