Equivalent-Frequency-Based Inverse Estimation of Specimen Thickness and Conductivity in Motion-Induced Eddy Current Testing
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Equivalent-Frequency-Based Inverse Estimation of Specimen Thickness and Conductivity in Motion-Induced Eddy Current Testing
- Date Crossref
- 01/01/2026
- Éditeur
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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Tsinghua University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Huazhong University of Science and Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Hubei University of Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Tsinghua University, Huazhong University of Science and Technology et Hubei University of Technology.
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