Structure Tensor and Retinex Model Based Enhancement for Microscopic Images of Micro-Holes
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Structure Tensor and Retinex Model Based Enhancement for Microscopic Images of Micro-Holes
- Date Crossref
- 01/05/2026
- Éditeur
- IEEE
- Type
- proceedings-article
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Où se fait cette recherche
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Hefei University of Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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School of Instrument Science and Opto-electronics Engineering pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Hefei University of Technology et School of Instrument Science and Opto-electronics Engineering.
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