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2026 article

Broad-beam ion source-enhanced deposition of highly oriented titanium dioxide thin films and their photocatalytic properties

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1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Broad-beam ion source-enhanced deposition of highly oriented titanium dioxide thin films and their photocatalytic properties
Date Crossref
01/10/2026
Éditeur
Elsevier BV
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Michigan State University Department of Chemical Engineering and Materials Science pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Fraunhofer USA pays non établi dans la notice
    Organisation à but non lucratif

Department of Chemical Engineering and Materials Science — Michigan State University et Fraunhofer USA.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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